特性分析、高低溫溫變測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗，如：
半導體芯片、SOC
閃存Flash/EMMC
PCBs、IC器件、MCMs、小型模塊組件
光通訊（如收發器 Transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等）
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產品名稱：TS-760發光器件高低溫測試儀器
詳細信息 應用
特性分析、高低溫溫變測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗，如： 半導體芯片、SOC 閃存Flash/EMMC PCBs、IC器件、MCMs、小型模塊組件 光通訊（如收發器 Transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等） 聯系方式
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