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HAST老化試驗(yàn)箱的作用及特點(diǎn)
發(fā)布時(shí)間:2025-02-20        瀏覽次數(shù):7        返回列表
 HAST老化試驗(yàn)箱(Highly Accelerated Stress Test)加速老化技術(shù)是一種在芯片行業(yè)常用的測(cè)試方法,用于模擬芯片在實(shí)際使用中可能遇到的極端環(huán)境和高溫高濕的工作環(huán)境,以檢驗(yàn)芯片的可靠性和壽命。HAST測(cè)試的原理是將芯片放置在高溫高濕的環(huán)境中,在一定時(shí)間內(nèi)進(jìn)行加速老化測(cè)試,以模擬長時(shí)間使用后可能出現(xiàn)的問題。通過這種測(cè)試方法,可以在短時(shí)間內(nèi)檢驗(yàn)芯片的可靠性和壽命,從而提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。

HAST老化試驗(yàn)箱的主要作用包括:

加速老化:通過提供高溫、高濕和高氣壓環(huán)境,加速產(chǎn)品老化過程,以模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用環(huán)境下的長期老化情況。

驗(yàn)證產(chǎn)品可靠性:測(cè)試產(chǎn)品在高溫、高濕和高氣壓條件下是否能夠正常運(yùn)行,并且沒有失效或性能下降,有助于產(chǎn)品設(shè)計(jì)人員了解產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的表現(xiàn),并對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行改進(jìn)和優(yōu)化。

篩選不合格產(chǎn)品:在高壓加速老化試驗(yàn)中,如果產(chǎn)品出現(xiàn)失效或性能下降,那么它們將被視為不合格產(chǎn)品,有助于生產(chǎn)過程中排除不合格產(chǎn)品,提高產(chǎn)品質(zhì)量。

降低產(chǎn)品開發(fā)周期:由于HAST試驗(yàn)箱可以加速產(chǎn)品老化過程,使得產(chǎn)品可靠性和壽命的驗(yàn)證可以更快地完成,有助于縮短產(chǎn)品的研發(fā)周期,降低產(chǎn)品開發(fā)成本。

HAST老化試驗(yàn)箱的特點(diǎn):

標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)更安全:內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計(jì)防止結(jié)露滴水,符合國家安全容器規(guī)范;

多重保護(hù)功能:各種超壓超溫、干燒漏電及誤操作等多重人機(jī)保護(hù);

穩(wěn)定性更高:內(nèi)置自研PID控制算法,確保溫度、濕度以及壓力值準(zhǔn)確度。

濕度自由選擇:飽和與非飽和自由設(shè)定;

智能化高:支持電腦連接,利用usb數(shù)據(jù)、曲線導(dǎo)出保存。

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