in TEST 產(chǎn)品包含 ThermoStream 高低溫循環(huán)測(cè)試系統(tǒng)，ThermoSpot 接觸式高低溫測(cè) 試系統(tǒng)，廣泛應(yīng)用于三星，TMSC ，英特爾，IBM 等半導(dǎo)體，以及光通訊，通訊器件行 業(yè)， 科研單位。 

 

inTEST  ThermoStream 高速熱測(cè)試系統(tǒng)用于各種溫度測(cè)試和調(diào)節(jié)應(yīng)用。從傳統(tǒng)的半導(dǎo)體

測(cè)試、失效分析和器件特性分析，到廣泛應(yīng)用于 PCB 和電子子裝配測(cè)試，inTEST 的溫度 能力系統(tǒng)可以滿足您的各種需求，適用于組件、零部件、混合動(dòng)力汽車、模塊、印刷電路 板的快速和精確的冷熱沖擊測(cè)試。 

 

inTEST 熱流儀能夠在不使用液氮(LN2)或液體二氧化碳(LCO2)的情況下進(jìn)行超低溫處 理。這種高質(zhì)量的溫度循環(huán)系統(tǒng)提供一個(gè)創(chuàng)新的溫度測(cè)試解決方案,允許在你的試驗(yàn)臺(tái)、在 你的生產(chǎn)設(shè)施、或在你的實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行在線式組件、板卡、模塊的溫度測(cè)試,

 

 

可移動(dòng)溫度系統(tǒng)，適用于設(shè)計(jì)和實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中的熱測(cè)試或調(diào)節(jié)。不需要 LN2 或 LCO2 的低 溫冷卻。 臺(tái)式溫度系統(tǒng)，非常適合在設(shè)計(jì)和實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中進(jìn)行溫度測(cè)試和調(diào)節(jié)。 無(wú)需 LN2 或 LCO2 即可進(jìn)行低溫冷卻。

 

 

應(yīng)用：  

測(cè)試 components, MCMs, modules, PCBs, assemblies  

用來(lái)替代液氮 

對(duì)設(shè)計(jì)的驗(yàn)證  

失效分析 

高低溫沖擊  

Thermal fixtures 

對(duì) Tester Handler 的溫度控制 

 

特性 

 在 20SCFM 的流速下釋放-80Cº 的溫度 

外部熱電偶 

 可分離的觸摸式控制器 

 使用標(biāo)準(zhǔn)的 off-the-shelf 制冷劑 

 CFC and HCFC free  

 IEEE-488 and RS232 遠(yuǎn)程接口 

 完全獨(dú)立 

 

 

優(yōu)點(diǎn) 

 元器件能快速并長(zhǎng)時(shí)間保持低溫狀態(tài)。 

 方便控制和 DUT 溫度監(jiān)控 

 遠(yuǎn)程定位制冷系統(tǒng)可節(jié)省空間  

 減少停工期，降低維修成本  

 周邊環(huán)境安全性 

 遠(yuǎn)程溫度控制 

 無(wú)需干冰或液氮等外部制冷源